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迷你KIP Ⅲ(攜帶式奈米級精密量測儀器) |
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特色： |
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| 迷你KIP Ⅲ 是一台攜帶式多功能3D奈米級的影像量儀，應用範圍遍及PCB、WAFER、MEMS、IC-PACKAGING、MLCC、SOLAR BATTERY COATING、SOLDER BUMP、SMART CARD等產業。KIP Ⅲ 可以精確的把物體表面高低變化描繪出來，幫助您監控生產設備之穩定性，是您生產最佳之品保Partner。具有輕薄短小時代特性，超高靈活度，超高快速瞬間量測，超高光學解析度，實際3D 量測數值，操作簡易 。 |
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精確度： |
X/Y: 0.3um, Z: <10nm |
檢測速度： |
10-15 second/ check point |
量測內容： |
3D image, Topography, 2D profile, roughness |
量測範圍： |
1600 x 1600 um – 260x260μm depend on object lens used |
量測深度： |
250μm – 75mm |
重量： |
28 kg |
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愷輝國際股份有限公司KAITRONIC TECHNOLOGY CO., LTD. |
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地址：320 桃園縣中壢市環北路400號4F-3│E-mail：service@kaitronic.com |
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