KIP Ⅲ 3D精密表面量測儀器

特色：

優點：

1. 掃描速度快且精準。
2. 可設定多組程式相對應產品料號，自動掃描並產生報告。
3. 強大的2D、3D分析軟體，滿足使用者量測分析需求，具有樣本套用、圖形拼接模式等強大功能。
4. 非接觸式且具穿透力可量測多層膜量測。

應用範圍：

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