KIP Ⅲ 3D精密表面量测仪器

特色：

优点：

1. 扫描速度快且精准。
2. 可设定多组程式相对应产品料号，自动扫描并产生报告。
3. 强大的2D、3D分析软体，满足使用者量测分析需求，具有样本套用、图形拼接模式等强大功能。
4. 非接触式且具穿透力可量测多层膜量测。

应用范围：

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