膜厚分析儀

特色：

1. 可量測厚度範圍10nm-400um。
2. 解析度至0.1nm。
3. 可量測薄膜材質、透明、半透明及極薄金屬膜。
4. 依據材質不同，可做穿透式量測多層組織。
5. 超小光點可量測特定點厚度。
6. 多通道機型，最多可量八個點厚度。
7. 特製探頭，可量測曲面形狀。

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