膜厚分析仪

特色：

1. 可量测厚度范围10nm-400um。
2. 解析度至0.1nm。
3. 可量测薄膜材质、透明、半透明及极薄金属膜。
4. 依据材质不同，可做穿透式量测多层组织。
5. 超小光点可量测特定点厚度。
6. 多通道机型，最多可量八个点厚度。
7. 特制探头，可量测曲面形状。

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